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晶片频率分选仪GY3020(晶片测试仪)

1800.00
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1 概述

        GY3020晶片频率分选仪是用于测量1~45MHZ频率  范围内石英晶体白片的谐振频率,频率由频率计显示,测试方便、准确。适用于石英晶体厂家生产线上测试白片。      

        1.1   使用环境:

        1.1.1   环境温度:0~40

        1.1.2   相对湿度:(20~90%

        1.1.3   大气压强:86~106 kPa。

        12   安全组别:属GB4793《电子测量仪器安全要求》 中

              Ⅱ类安全仪器。

        1.3   使用电源:220V±10%50±1Hz

        1.4   消耗功率:小于6VA

        1.5   外形尺寸:205mm×150mm×85mm

        1.6   重量:2.3 kg。

 

  2 技术参数 

          频率范围:1~45MHz

              频段划分:2 ~7 MHz 

                        7~15 MHz

                        15~25MHz

                        25~35MHz 

                        35~4MHz